上海艾時(shí)微技術(shù)開發(fā)有限公司-膜厚儀-晶圓缺陷檢測(cè)儀-四探針測(cè)試儀
上海艾時(shí)微技術(shù)開發(fā)有限公司，生產(chǎn)銷售膜厚測(cè)試儀、液體顆粒計(jì)數(shù)、臺(tái)階儀、膜厚儀、理音、晶圓幾何參數(shù)測(cè)試儀、四探針測(cè)試儀、汞探針cv測(cè)試儀、晶圓缺陷檢測(cè)儀、CandelaRion、Filmetrics，聚焦于表面形貌及力學(xué)量測(cè)，膜厚及電性量測(cè)，缺陷檢測(cè)和成分分析四大領(lǐng)域，立志為科研及半導(dǎo)體領(lǐng)域貢獻(xiàn)自己的力量。